技術(shù)文章
TECHNICAL ARTICLES在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的精密制造鏈條中，晶圓檢測(cè)是保障芯片良率的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。隨著芯片制程不斷向7nm及以下突破，對(duì)檢測(cè)技術(shù)的精度、效率提出了嚴(yán)苛要求。目前行業(yè)內(nèi)主流的晶圓檢測(cè)技術(shù)——光學(xué)檢測(cè)、電子束檢測(cè)及原子力顯微鏡檢測(cè)，憑借各自技術(shù)原理，在不同檢測(cè)場(chǎng)景中發(fā)揮著重要的作用，共同構(gòu)筑起晶圓質(zhì)量的“防護(hù)網(wǎng)”。光學(xué)檢測(cè)技術(shù)以“光的傳播與交互”為核心原理，是晶圓檢測(cè)中應(yīng)用廣泛的基礎(chǔ)技術(shù)。其本質(zhì)是通過(guò)高分辨率光學(xué)系統(tǒng)向晶圓表面發(fā)射特定波長(zhǎng)的光束，利用光的反射、折射、散射及干涉特性捕捉晶圓信息。當(dāng)光...
在材料科學(xué)、化學(xué)、制藥、地質(zhì)、新能源等前沿領(lǐng)域，深入理解物質(zhì)的微觀晶體結(jié)構(gòu)是推動(dòng)研發(fā)、控制品質(zhì)、發(fā)現(xiàn)新知的核心。粉末X射線衍射儀，正是開(kāi)啟這扇微觀世界大門(mén)的金鑰匙。它通過(guò)分析材料對(duì)X射線的衍射圖譜，非破壞性地揭示物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、物相組成、結(jié)晶度、晶粒尺寸、應(yīng)力狀態(tài)等關(guān)鍵信息，是科研與工業(yè)領(lǐng)域的精密分析工具。一、核心原理：一束X光，解開(kāi)微觀世界的密碼當(dāng)一束單色X射線照射到粉末樣品上時(shí)，樣品中無(wú)數(shù)隨機(jī)取向的微小晶體會(huì)在各個(gè)方向上產(chǎn)生衍射。通過(guò)探測(cè)和記錄這些衍射X射線的方向（角度）...
在半導(dǎo)體、材料科學(xué)等前沿領(lǐng)域的微觀表征中，高分辨X射線顯微鏡憑借其穿透性強(qiáng)、無(wú)損檢測(cè)的優(yōu)勢(shì)，成為解析微觀結(jié)構(gòu)的核心設(shè)備?？臻g分辨率、襯度靈敏度及成像視野作為衡量其性能的三大核心指標(biāo)，直接決定檢測(cè)數(shù)據(jù)的精準(zhǔn)度與應(yīng)用價(jià)值。這些指標(biāo)的表現(xiàn)并非孤立存在，而是受X射線源特性、光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)、探測(cè)器性能等多重因素協(xié)同影響，深入理解其關(guān)聯(lián)機(jī)制是精準(zhǔn)選型與高效應(yīng)用的關(guān)鍵?？臻g分辨率作為表征設(shè)備“看清微觀細(xì)節(jié)”能力的核心，主要受X射線源波長(zhǎng)與光學(xué)系統(tǒng)聚焦能力主導(dǎo)。根據(jù)衍射極限原理，X射線波長(zhǎng)越短...
Lexsyg儀器助力解開(kāi)西班牙千年古跡年代之謎！SantalladeBóveda建筑年代終揭曉【研究背景】西班牙盧戈省的SantalladeBóveda紀(jì)念碑因其神秘的羅馬風(fēng)格壁畫(huà)與建筑結(jié)構(gòu)，近百年來(lái)引發(fā)學(xué)界對(duì)其年代與功能的激烈爭(zhēng)論。近期，國(guó)際研究團(tuán)隊(duì)通過(guò)lexsygresearch等端儀器，實(shí)現(xiàn)了對(duì)建筑灰燼與磚塊的解開(kāi)測(cè)年，研究成果發(fā)表于國(guó)際有名期刊?！炯夹g(shù)突破】研究團(tuán)隊(duì)創(chuàng)新性采用光釋光（OSL）、熱釋光（TL）與碳14測(cè)年技術(shù)聯(lián)用方案：1、通過(guò)lexsygresearch...
晶體結(jié)構(gòu)決定材料的物理化學(xué)性能，D8X射線衍射儀作為核心分析設(shè)備，憑借“高分辨率衍射+多功能分析”優(yōu)勢(shì)，精準(zhǔn)測(cè)定晶體的物相組成、晶格參數(shù)、結(jié)晶度等關(guān)鍵信息，廣泛應(yīng)用于材料研發(fā)、地質(zhì)勘探、醫(yī)藥研發(fā)等領(lǐng)域，成為解碼晶體結(jié)構(gòu)的工具。傳統(tǒng)X射線衍射儀存在分辨率低、掃描速度慢等問(wèn)題，難以滿(mǎn)足復(fù)雜晶體結(jié)構(gòu)的分析需求。D8X射線衍射儀采用“高精度測(cè)角儀+智能X射線光學(xué)系統(tǒng)”架構(gòu)，實(shí)現(xiàn)性能突破：測(cè)角儀精度達(dá)0.0001°，確保衍射峰定位精準(zhǔn)；配備多層膜單色器與聚焦鏡，有效過(guò)濾雜散射線，提升衍...
在材料科學(xué)、醫(yī)藥研發(fā)、地質(zhì)勘探等領(lǐng)域，物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)與物相組成是揭示其性能本質(zhì)的核心。粉末衍射儀憑借對(duì)晶體結(jié)構(gòu)的精準(zhǔn)分析能力，成為科研突破與產(chǎn)業(yè)升級(jí)的關(guān)鍵設(shè)備。束蘊(yùn)儀器深耕分析儀器領(lǐng)域多年，自主研發(fā)的粉末衍射儀以“高分辨率、高穩(wěn)定性、高適配性”三大優(yōu)勢(shì)，為全球用戶(hù)提供從基礎(chǔ)科研到工業(yè)檢測(cè)的全場(chǎng)景解決方案，成為行業(yè)內(nèi)的主要產(chǎn)品。高分辨率是粉末衍射儀的核心競(jìng)爭(zhēng)力，也是束蘊(yùn)儀器的技術(shù)突破點(diǎn)。傳統(tǒng)設(shè)備在分析復(fù)雜物相時(shí)，常因衍射峰重疊導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真，而束蘊(yùn)粉末衍射儀搭載進(jìn)口Cu靶X光管與...
在材料科學(xué)與工程領(lǐng)域，表界面的微觀世界藏著決定產(chǎn)品性能的關(guān)鍵密碼。從半導(dǎo)體芯片的界面結(jié)合強(qiáng)度，到鋰電材料的SEI膜穩(wěn)定性，再到航空涂層的腐蝕防護(hù)機(jī)制，精準(zhǔn)捕捉表界面的元素組成、化學(xué)態(tài)及深度分布，是科研突破與產(chǎn)業(yè)升級(jí)的核心前提。然而傳統(tǒng)分析手段常陷入“要么看不清微區(qū)細(xì)節(jié)，要么分不清化學(xué)態(tài)，要么測(cè)不準(zhǔn)深度分布”的困境，表界面分析的盲區(qū)成為阻礙研發(fā)效率的“攔路虎”。束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司深耕表面分析儀器領(lǐng)域多年，憑借對(duì)行業(yè)痛點(diǎn)的深刻洞察，推出高性能俄歇電子能譜儀（AES），以“化...
布魯克X射線部門(mén)王金波碳纖維增強(qiáng)復(fù)合材料（CFRP）因其兼具高抗拉強(qiáng)度、高剛性和輕量化特性，作為下一代技術(shù)和產(chǎn)業(yè)的關(guān)鍵材料正受到普遍關(guān)注。一、CFRP力學(xué)性能的影響因素CFRP的力學(xué)性能受多種因素明顯影響：1）碳纖維的取向和密度會(huì)直接作用于其性能表現(xiàn)。2）內(nèi)部空隙和缺陷的存在也會(huì)產(chǎn)生重要影響。3）深入了解這些內(nèi)部結(jié)構(gòu)，是準(zhǔn)確評(píng)估CFRP強(qiáng)度并優(yōu)化其設(shè)計(jì)的關(guān)鍵。二、內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析的挑戰(zhàn)與需求分析CFRP內(nèi)部結(jié)構(gòu)需要能夠分辨出小到微米設(shè)置是亞微米的間隙。1）傳統(tǒng)破壞性方法需切割樣品...
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